Characterising Soft-Failures in Component-Level ESD Testing

  • Patrick Schrey (Redner/in)

Aktivität: Vortrag oder PräsentationVortrag bei Konferenz oder FachtagungScience to science

Zeitraum3 Juli 2018
Ereignistitel14th Conference on Ph.D. Research in Microelectronics and Electronics: PRIME 2018
VeranstaltungstypKonferenz
Konferenznummer14
SponsorenAllegro MicroSystems, LLC, Dialog Semiconductor, ON Semiconductor
OrtPrague, SlowakeiAuf Karte anzeigen
BekanntheitsgradInternational