Electrical Characterization of Semiconductor Nanostructures by Conductive Probe Based Atomic Force Microscopy

Aktivität: Prüfungs- oder Betreuungstätigkeit › Externe Prüfungstätigkeit

Beschreibung

Dissertation
Zeitraum1 Apr. 2011
GeprüfterIgor Beinik, Igor Beinik & Igor Beinik
Überprüfung stattgefunden am
  • Montanuniversität Leoben