Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits – An Introduction to EMC Test Methods

Aktivität: Vortrag oder PräsentationInvited talk bei Konferenz oder FachtagungScience to public

Zeitraum12 März 201816 März 2018
Ereignistitel19th IEEE Latin-American Test Symposium (LATS2018)
VeranstaltungstypKonferenz
OrtSao Paulo, BrasilienAuf Karte anzeigen
BekanntheitsgradInternational

ASJC Scopus Sachgebiete

  • Elektrotechnik und Elektronik

Fields of Expertise

  • Information, Communication & Computing