Statistical Analysis of Semiconductor Images

  • Sarah Karasek (Redner/in)
  • Friedl, H. (Beitragende/r)
  • Peter Scheibelhofer (Beitragende/r)

Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Vortrag bei Workshop, Seminar oder Kurs › Science to science

Zeitraum16 Juli 2018 → 20 Juli 2018
EreignistitelInternational Workshop on Statistical Modelling 2018
VeranstaltungstypKonferenz
OrtBristol, Großbritannien / Vereinigtes KönigreichAuf Karte anzeigen
BekanntheitsgradInternational