TID characterization at low and medium energy X-rays of 0.18 µm analog integrated test chip MiAMoRE

Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Posterpräsentation › Science to science

Zeitraum23 Okt. 2017 → 26 Okt. 2017
EreignistitelThe 13th International School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Applications
VeranstaltungstypWorkshop
Konferenznummer13
OrtGarching, DeutschlandAuf Karte anzeigen
BekanntheitsgradInternational

ASJC Scopus Sachgebiete

  • Elektrotechnik und Elektronik
  • Sicherheit, Risiko, Zuverlässigkeit und Qualität
  • Strahlung

Fields of Expertise

  • Information, Communication & Computing

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