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Tomographic atom probe: a new tool for nanoscale characterization
Leisch, M.
(Redner/in)
Institut für Festkörperphysik (5130)
Aktivität
:
Vortrag oder Präsentation
›
Gastvortrag
›
Science to science
Zeitraum
2 Sept. 1995
→
7 Sept. 1995
Ereignistitel
6th Intern. Autumn Meeting Gettering and defect engineering in semiconductor technology
Veranstaltungstyp
Konferenz