ASJC Scopus Sachgebiete
- Elektrotechnik und Elektronik
- Sicherheit, Risiko, Zuverlässigkeit und Qualität
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- Information, Communication & Computing
Total ionizing dose effects on MOS transistors fabricated in 0.18 µm CMOS technology
- Varvara Bezhenova (Redner/in)
Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Posterpräsentation › Science to science