5th IEEE Conference on Visual Analytics Science and Technology (Veranstaltung)

  • Marc Streit (Mitglied)

Aktivität: Mitgliedschaft › Mitgliedschaft in Gutachtergremium

Beschreibung

IEEE Visual Analytics (VAST) Challenge 2010
Zeitraum1 Jan. 2010
Ereignistitel5th IEEE Conference on Visual Analytics Science and Technology: IEEE VAST 2010
VeranstaltungstypKonferenz
OrtSalt Lake City, USA / Vereinigte Staaten, UtahAuf Karte anzeigen