Publikationen pro Jahr
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Fingerprint
Ergründen Sie die Forschungsthemen, in denen Armin Zankel aktiv ist. Diese Themenbezeichnungen stammen aus den Werken dieser Person. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.
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Publikationen
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Characterisation of the opening behavior of multilayer films with cohesive failure mechanism by in situ peel tests in the ESEM
Heuser, M., Zankel, A., Mayrhofer, C., Reincke, K., Langer, B. & Grellmann, W., Jan. 2022, in: Journal of Plastic Film & Sheeting. 38, 1, S. 147-172 26 S.Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Review eines Fachbereichs (Review article) › Begutachtung
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Correlating whole sample EDS and Raman mappings – A case study of a Chelyabinsk meteorite fragment
Fitzek, H. M., Zankel, A., Dienstleder, M., Rattenberger, J., Schröttner, H. & Hofer, F., Feb. 2022, in: Micron. 153, 19 S., 103177.Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung
Open Access -
Correlative microscopy and machine learning –new tools for material characterization
Fitzek, H. M., Schmidt, R., Nachtnebel, M., Rattenberger, J., Zankel, A., Hofer, F. & Schröttner, H., 2022.Publikation: Konferenzbeitrag › Poster
Open AccessDatei -
Correlative microscopy and machine learning –new tools for material characterization
Fitzek, H. M., Schmidt, R., Nachtnebel, M., Rattenberger, J., Zankel, A., Hofer, F. & Schröttner, H., 2022, S. HM 114. 1 S.Publikation: Konferenzbeitrag › Abstract › Begutachtung
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Correlative Raman microscopy, SEM and EDS – The combined evaluation of a whole sample mapping of a Chelyabinsk meteorite fragment
Fitzek, H. M., Schmidt, R., Nachtnebel, M., Rattenberger, J., Zankel, A., Hofer, F. & Schröttner, H., 2022, S. 43-44.Publikation: Konferenzbeitrag › Abstract › Begutachtung
Aktivitäten
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Low Vacuum Scanning Electron Microscopy for the Characterization of Polymers enabling in situ, 3D and Correlative Investigations
Armin Zankel (Redner/in)
24 Mai 2022Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Vortrag bei Konferenz oder Fachtagung › Science to science
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Webinar-Papier
Armin Zankel (Keynote speaker)
14 Juli 2022Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Öffentlicher Vortrag oder öffentliche Diskussion › Science to public
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Scanning electron microscopy and cellulosic materials - A review about new methodic approaches
Armin Zankel (Redner/in)
18 Mai 2022Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Vortrag bei Konferenz oder Fachtagung › Science to science
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Führung Science Klasse Kepler Gymnasium
Armin Zankel (Redner/-in), Martina Dienstleder (Redner/-in), Claudia Mayrhofer (Redner/-in) & Ilse Letofsky-Papst (Redner/-in)
22 Juni 2022Aktivität: Öffentlichkeitsarbeit › Aktivitäten im Schulbereich
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Electron-microscopical data management within a QMS - from data acquisition to publication
Armin Zankel (Redner/in)
21 Sep. 2022Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Vortrag bei Konferenz oder Fachtagung › Science to science
Auszeichnungen
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The Paper Award BRONZE: WITec Paper Award 2020
Schmidt, Ruth (Empfänger/-in), Fitzek, Harald Matthias (Empfänger/-in), Nachtnebel, Manfred (Empfänger/-in), Mayrhofer, Claudia (Empfänger/-in), Schröttner, Hartmuth (Empfänger/-in) & Zankel, Armin (Empfänger/-in), 2020
Auszeichnung: Preise / Medaillen / Ehrungen
Presseberichte
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ZFE: Online-Mikroskopie Lösung ermöglicht Kooperation auf Distanz
16/12/20
1 eigener Medienbeitrag
Presse/Medien: Presse / Medien
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ACR-Serie Infrastrukturgeräte: hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop
Armin Zankel & Ruth Schmidt
16/06/18
1 eigener Medienbeitrag
Presse/Medien: Presse / Medien
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Begriffe der Wissenschaft
Ferdinand Hofer, Armin Zankel & Margit Wallner
6/03/11
1 eigener Medienbeitrag
Presse/Medien: Presse / Medien
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Entdeckungsreise in den Mikroskosmos
Ferdinand Hofer, Armin Zankel & Margit Wallner
6/03/11
1 eigener Medienbeitrag
Presse/Medien: Presse / Medien
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In-situ Experiments in the ESEM
Zankel, A., Pölt, P. & Reingruber, H.
1/01/09 → …
Projekt: Foschungsprojekt
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Kontrast Mechanismen in "Low Vacuum" und "Environmental" Rasterelektronenmikroskopen
Wagner, J., Zankel, A. & Schmied, M. M.
1/10/03 → 31/01/04
Projekt: Arbeitsgebiet
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Rasterelektronenmikroskopie, Röntgenspektrometrie und Kristallstrukturanalyse
Schmied, M. M., Zankel, A., Wagner, J., Elis, C., Schröttner, H., Bahr, P. & Reichmann, A.
1/01/95 → 31/01/03
Projekt: Arbeitsgebiet