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2024
A Differential-Mode and Common-Mode DC-Bias VNA Measurement Setup for Power 4-Port Devices
Maier, C., Scambor, A. & Prutej, D., 2 Sept. 2024, 2024 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe. 2024 Aufl. IEEE Publications, S. 1076-1081 6 S. (Proceedings of the International Symposium on Electromagnetic Compatibility, EMC Europe).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung
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From Biased Measurement to Model: An EMI Simulation Journey
Maier, C., Scambor, A., Prutej, D., Plattner, C., Doblhofer, D. & Steiner, M., 19 Sept. 2024, 21. EMV-Fachtagung 2024 .Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung