Publikationen pro Jahr
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Persönliches Profil
ÖFOS 2012 (6-stellig)
- 103009 Festkörperphysik
Fingerprint
Ergründen Sie die Forschungsthemen, in denen Peter Hadley aktiv ist. Diese Themenbezeichnungen stammen aus den Werken dieser Person. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.
- 1 Ähnliche Profile
Netzwerk
Jüngste externe Zusammenarbeit auf Länder-/Gebietsebene. Tauchen Sie ein in Details, indem Sie auf die Punkte klicken, oder:
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Electrical-stress driven oxidation in 940 nm oxide-confined VCSEL
Pusterhofer, M., Fabbro, R., Coppeta, R. A., Fasching, G. & Hadley, P., Jan. 2022, in: Semiconductor Science and Technology. 37, 1, S. 1-9 9 S., 015010.Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung
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Integrated sub-micron vacuum gaps in semiconductor devices
Oles, P., Breymesser, A., Blank, O. & Hadley, P., 8 Aug. 2022, in: Applied Physics Letters. 121, 6, 062107.Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung
Open Access -
A cryogenic high-voltage amplifier for ion traps
Sieberer, M., Sandner, C. & Hadley, P., 2021, SMACD / PRIME 2021 - International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design and 16th Conference on PhD Research in Microelectronics and Electronics. VDE-Verlag GmbH, Berlin, Offenbach, S. 408-411 4 S.Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung
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Dielectric Properties of Plasma Oxides for Microfabricated Ion Traps
Zesar, A., Schönherr, H., Sieberer, M., Seebacher, D., Rössler, C., Schüppert, K., Aschauer, E. & Hadley, P., 2021, MikroSystemTechnik Kongress 2021: Mikroelektronik, Mikrosystemtechnik und ihre Anwendungen - Innovative Produkte fur zukunftsfahige Markte, Proceedings. VDE-Verlag GmbH, Berlin, Offenbach, S. 363-364 2 S.Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung
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Simulation of moisture-induced plasticization in transfer-molded optical sensor packages using a time - temperature - moisture concentration superposition
Huber, F., Etschmaier, H. & Hadley, P., 2021, IEEE 71st Electronic Components and Technology Conference, ECTC 2021. Institute of Electrical and Electronics Engineers, S. 989-994 6 S.Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung
Aktivitäten
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Degradation of Electrical Parameters of Power Semiconductor Devices - Process Influences and Modeling
Peter Hadley (Ausführende/r)
5 Dez. 2013Aktivität: Prüfungs- oder Betreuungstätigkeit › Externe Prüfungstätigkeit
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Beyond CMOS - EURODOTS Workshop
Peter Hadley (Redner/in)
31 Aug. 2011Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Gastvortrag › Science to science
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Beyond CMOS, Leuven (Belgien)
Peter Hadley (Teilnehmer/-in)
1 Sep. 2011Aktivität: Teilnahme an / Organisation von › Festival oder Austellung (Teilnahme an/Organisation von)
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Electrical Characterization of Semiconductor Nanostructures by Conductive Probe Based Atomic Force Microscopy
Peter Hadley (Ausführende/r)
1 Apr. 2011Aktivität: Prüfungs- oder Betreuungstätigkeit › Externe Prüfungstätigkeit
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Institut für Theoretische Physik - Computational Physics (5150) (Organisation)
Peter Hadley (Mitglied)
1 Juni 2010 → 20 Okt. 2010Aktivität: Mitgliedschaft › Mitgliedschaft in Prüfungskommission
Projekte
- 2 Abgeschlossen
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FFG@RCPE - Forschung für junge GründerInnen: Jugend sucht Ideen in Forschung & Wirtschaft für Produktinnovationen im MINT-Bereich
Hadley, P., Hofer, F. & Berg, G.
1/08/14 → 31/07/15
Projekt: Foschungsprojekt
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