FWF - Robust IC - Untersuchung der Störfestigkeit von analogen integrierten Schaltungen

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• 2018

  Ionizing radiation and radiation hardness in analog integrated circuits - recent X-ray testing

  Bezhenova, V. & Michalowska-Forsyth, A. M., Apr. 2018, S. 21. 1 S.

  Publikation: Konferenzbeitrag › Abstract

  Open Access