FWF - Robust IC - Untersuchung der Störfestigkeit von analogen integrierten Schaltungen

Michalowska-Forsyth, Alicja Malgorzata (Teilnehmer (Co-Investigator))

Institut für Elektronik (4390)

Projekt: Forschungsprojekt

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2018

Ionizing radiation and radiation hardness in analog integrated circuits - recent X-ray testing
Bezhenova, V. & Michalowska-Forsyth, A. M., 25 Apr. 2018
Publikation: Andere Beiträge › Lehrveranstaltungsskriptum