Projektdetails
Beschreibung
Entwicklung einer Belastungsmethodik für die Lebensdaueruntersuchung von Halbleiterstrukturen unter definierten Belastungen und vor dem Hintergrund der applikationsspezifischen Systemebenen.
| Status | Abgeschlossen |
|---|---|
| Tatsächlicher Beginn/ -es Ende | 1/10/14 → 30/09/17 |
Fingerprint
Erkunden Sie die Forschungsthemen, die von diesem Projekt angesprochen werden. Diese Bezeichnungen werden den ihnen zugrunde liegenden Bewilligungen/Fördermitteln entsprechend generiert. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.