Abstract
- A new design for CDM testing is proposed that retains the field charging DDT method while providing a consistent discharge inside of a reed switch. The method is shown to adhere to the current JS-002 standard and to perform at low voltages, but JS-002 failures could not be exactly replicated.
Originalsprache | englisch |
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Titel | Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium 2020, Proceedings - EOS/ESD 2020 |
Seitenumfang | 9 |
ISBN (elektronisch) | 978-1-7281-9461-5 |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 13 Sept. 2020 |
Veranstaltung | 42nd Annual Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium: EOS/ESD 2020 - Reno, USA / Vereinigte Staaten Dauer: 13 Sept. 2020 → 18 Sept. 2020 |
Konferenz
Konferenz | 42nd Annual Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium |
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Kurztitel | EOS/ESD 2020 |
Land/Gebiet | USA / Vereinigte Staaten |
Ort | Reno |
Zeitraum | 13/09/20 → 18/09/20 |
ASJC Scopus subject areas
- Elektrotechnik und Elektronik