Fingerprint
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An Impedance Converter-based Probe Characterization Method for Magnetic Materials Loss Measurement
Anfeng Huang*, Hongseok Kim, Hanyu Zhang, Qiusen He, David Johannes Pommerenke, Jun Fan
*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit
Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung