| Originalsprache | englisch |
|---|---|
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2008 |
Fields of Expertise
- Sonstiges
Treatment code (Nähere Zuordnung)
- Application
An Investigatioin of Silicon Crystal Defects Caused by Boron Doping
Andreas Jörg Schriefl
Publikation: Studienabschlussarbeit › Bachelorarbeit