Analytical Characterization for NIL Production of Organic TFTs by EFTEM

Thomas Haber; C. Auner; U. Palfinger; Meltem Sezen; Werner Grogger

doi:10.3217/978-3-85125-062-6-575

Analytical Characterization for NIL Production of Organic TFTs by EFTEM

Thomas Haber, C. Auner, U. Palfinger, Meltem Sezen, Werner Grogger

Institut für Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik (5190)

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

Originalsprache	englisch
Titel	Materials Science
Erscheinungsort	Wien
Herausgeber (Verlag)	Facultas
Seiten	405-406
ISBN (Print)	978-3-85125-062-6
DOIs	https://doi.org/10.3217/978-3-85125-062-6-575
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2009
Veranstaltung	Multinational Congress on Microscopy - Graz, Österreich Dauer: 30 Aug. 2009 → 4 Sept. 2009

Konferenz

Konferenz	Multinational Congress on Microscopy
Land/Gebiet	Österreich
Ort	Graz
Zeitraum	30/08/09 → 4/09/09

Treatment code (Nähere Zuordnung)

Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Zugriff auf Dokument

10.3217/978-3-85125-062-6-575

Crystal structure analysis using electron microscopy
1/01/02 → …
Projekt: Arbeitsgebiet

Dieses zitieren

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TY - GEN

T1 - Analytical Characterization for NIL Production of Organic TFTs by EFTEM

AU - Haber, Thomas

AU - Auner, C.

AU - Palfinger, U.

AU - Sezen, Meltem

AU - Grogger, Werner

PY - 2009

Y1 - 2009

U2 - 10.3217/978-3-85125-062-6-575

DO - 10.3217/978-3-85125-062-6-575

M3 - Conference paper

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SP - 405

EP - 406

BT - Materials Science

PB - Facultas

CY - Wien

T2 - Multinational Congress on Microscopy

Y2 - 30 August 2009 through 4 September 2009

ER -

Analytical Characterization for NIL Production of Organic TFTs by EFTEM

Konferenz

Treatment code (Nähere Zuordnung)

Zugriff auf Dokument

Projekte

Crystal structure analysis using electron microscopy

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