Fingerprint
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Characterisation of thick film Ti/Al nanolaminates
L. Coast-Smith*, R. Brydson, P. Tsakiropoulos, F. Hofer, W. Grogger, D. V. Dunford, C. M. Ward-Closer
*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit
Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung