Characterization of silicon wafer surfaces by Contact Angle- and AFM-measurements

Thomas Bodner, Andreas Behrendt, Emil Prax, Franz Stelzer, Frank Wiesbrock

Publikation: KonferenzbeitragPoster

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2010
VeranstaltungAustrian-Slovenian Polymer Meeting ASPM 2010 - Leoben, Austria
Dauer: 8 Sept. 201010 Sept. 2010

Konferenz

KonferenzAustrian-Slovenian Polymer Meeting ASPM 2010
OrtLeoben, Austria
Zeitraum8/09/1010/09/10

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Experimental

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