Characterization of the EME of integrated circuits with the help of the IEC standard 61967 [electromagnetic emission]

T. Ostermann, B. Deutschmann

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheundefiniert/unbekannt
TitelProceedings of the European Test Workshop
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2003

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