Correlative microscopy and machine learning –new tools for material characterization

Harald Matthias Fitzek; Ruth Schmidt; Manfred Nachtnebel; Johannes Rattenberger; Armin Zankel; Ferdinand Hofer; Hartmuth Schröttner

Correlative microscopy and machine learning –new tools for material characterization

Harald Matthias Fitzek, Ruth Schmidt, Manfred Nachtnebel, Johannes Rattenberger, Armin Zankel, Ferdinand Hofer, Hartmuth Schröttner

Institut für Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik (5190)

Publikation: Konferenzbeitrag › Abstract › Begutachtung

Originalsprache	englisch
Seiten	HM 114
Seitenumfang	1
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2022
Veranstaltung	20th Plansee Seminar - Reutte, Österreich Dauer: 29 Mai 2022 → 3 Juni 2022

Konferenz

Konferenz	20th Plansee Seminar
Land/Gebiet	Österreich
Ort	Reutte
Zeitraum	29/05/22 → 3/06/22

ASJC Scopus subject areas

Allgemeine Materialwissenschaften

Fields of Expertise

Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

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TY - CONF

T1 - Correlative microscopy and machine learning –new tools for material characterization

AU - Fitzek, Harald Matthias

AU - Schmidt, Ruth

AU - Nachtnebel, Manfred

AU - Rattenberger, Johannes

AU - Zankel, Armin

AU - Hofer, Ferdinand

AU - Schröttner, Hartmuth

PY - 2022

Y1 - 2022

M3 - Abstract

SP - HM 114

T2 - 20th Plansee Seminar

Y2 - 29 May 2022 through 3 June 2022

ER -