Defect localization in high-power vertical cavity surface emitting laser arrays by means of reverse biased emission microscopy

Robert Fabbro*, Thomas Haber, Gernot Fasching, Raffaele Coppeta, Michael Pusterhofer, Werner Grogger

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

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