DPI-Testboard for Analog-to-Digital Converters

Michael Fuchs; Patrick Rosenberger

DPI-Testboard for Analog-to-Digital Converters

Titel in Übersetzung: DPI-Testboard für Analog-Digital-Konverter

Michael Fuchs, Patrick Rosenberger

Institut für Elektronik (4390)

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

Abstract

Immer mehr moderne Geräte verfügen über eine Vielzahl von Analog-Digital-Konvertern (ADCs). Um die Robustheit dieser ADCs gegenüber leitungsgeführten, elektromagnetischen Störungen zu bestimmen gibt es bisher noch keine eindeutigen Testmethoden. Diese Arbeit präsentiert ein Testboard für Störeinkopplungen auf Basis der Methode der Direct-Power-Injection (DPI). Die definierten Fehlerkriterien und das Test-Setup bieten eine Basis für eine zukünftige Standadisierung von Robustheits-Untersuchungen an ADCs.

Titel in Übersetzung	DPI-Testboard für Analog-Digital-Konverter
Originalsprache	englisch
Titel	15. EMV-Fachtagung
Redakteure/-innen	Gunter Winkler
Erscheinungsort	Wien
Herausgeber (Verlag)	Österreichischer Verband für Elektrotechnik
Seiten	20
Seitenumfang	1
Band	87
ISBN (Print)	3-85133-093-5
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 26 Apr. 2017

Publikationsreihe

Name	OVE Schriftenreihe
Band	87

Schlagwörter

EMV
EMV Fachtagung 2017
ADC
DPI
EMC

ASJC Scopus subject areas

Allgemeiner Maschinenbau

1 Posterpräsentation

15. EMV-Fachtagung
Michael Fuchs (Redner/in)
26 Apr. 2017
Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Posterpräsentation › Science to science

Dieses zitieren

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N2 - Immer mehr moderne Geräte verfügen über eine Vielzahl von Analog-Digital-Konvertern (ADCs). Um die Robustheit dieser ADCs gegenüber leitungsgeführten, elektromagnetischen Störungen zu bestimmen gibt es bisher noch keine eindeutigen Testmethoden. Diese Arbeit präsentiert ein Testboard für Störeinkopplungen auf Basis der Methode der Direct-Power-Injection (DPI). Die definierten Fehlerkriterien und das Test-Setup bieten eine Basis für eine zukünftige Standadisierung von Robustheits-Untersuchungen an ADCs.

AB - Immer mehr moderne Geräte verfügen über eine Vielzahl von Analog-Digital-Konvertern (ADCs). Um die Robustheit dieser ADCs gegenüber leitungsgeführten, elektromagnetischen Störungen zu bestimmen gibt es bisher noch keine eindeutigen Testmethoden. Diese Arbeit präsentiert ein Testboard für Störeinkopplungen auf Basis der Methode der Direct-Power-Injection (DPI). Die definierten Fehlerkriterien und das Test-Setup bieten eine Basis für eine zukünftige Standadisierung von Robustheits-Untersuchungen an ADCs.

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DPI-Testboard for Analog-to-Digital Converters

Abstract

Publikationsreihe

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Aktivitäten

15. EMV-Fachtagung

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