Effects of ionic traces within the semiconductor and/or the dielectric on the operational characteristics of organic field-effect transistors

Andreas Klug, Kerstin Schmoltner, Sonja Larissegger, Emil List

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 13 Mai 2012
VeranstaltungEuropean Materials Research Society Spring Meeting 2012: E-MRS Spring Meeting 2012 - Strasbourg, Frankreich
Dauer: 13 Mai 201218 Mai 2012

Konferenz

KonferenzEuropean Materials Research Society Spring Meeting 2012
KurztitelEMRS Spring Meeting 2012
Land/GebietFrankreich
OrtStrasbourg
Zeitraum13/05/1218/05/12

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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