Effiziente Modellierung der Elektromagnetischen Interferenz einer Gallium-Nitrid-Halbbrücke

In diesem Beitrag wird die Verwendung von Simulationen zur Vorhersage der an den Stromversorgungsleitungen einer leistungselektronischen Anwendung maximal erzeugten leitungsgebundenen Störemission untersucht, die durch die Schaltaktivität einer Gallium-Nitrid-Halbbrücke verursacht wird. Der Ansatz, der ein Simulationsmodell der in der CISPR25-Norm definierten Spannungsmessungsmethode verwendet, berücksichtigt die wichtigen parasitären Elemente der elektronischen Komponenten und des Messaufbaus, vermeidet jedoch komplizierte Modellierungs- und Simulationstechniken und zeigt eine einfache Schaltungssimulation als effiziente Alternative zur genauen Vorhersage der Emission in einer frühen Entwicklungsphase. Es werden Beispiele für die Simulationsmodelle und den Simulationsaufbau sowie die Messung der Emissionen vorgestellt. Die Simulationsdaten stimmen mit den Messungen überein und ermöglichen bereits in der Anfangsphase von Neuentwicklungen eine gute Abschätzung der elektromagnetischen Störungen.