Originalsprache | englisch |
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Publikationsstatus | Veröffentlicht - Apr. 2017 |
Veranstaltung | Conference on Frontiers of Aberration Corrected Electron Microscopy - Kasteel Vaalsbroek, Niederlande Dauer: 30 Apr. 2017 → 4 Mai 2017 Konferenznummer: 4 |
Konferenz
Konferenz | Conference on Frontiers of Aberration Corrected Electron Microscopy |
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Kurztitel | PICO 2017 |
Land/Gebiet | Niederlande |
Ort | Kasteel Vaalsbroek |
Zeitraum | 30/04/17 → 4/05/17 |
Fields of Expertise
- Advanced Materials Science