Error of Emission Measurement of ICs due to Imperfect Termination of TEM Cell

V. Müllerwiebus, Bernd Deutschmann, Frank Klotz

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelInternational Symposium on Electromagnetic Compatibility
ErscheinungsortPiscataway, NJ
Herausgeber (Verlag)Institute of Electrical and Electronics Engineers
Seiten263-267
ISBN (Print)978-1-4244-2737-6
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2008
VeranstaltungInternational Symposium on Electromagnetic Compatibility: EMC 2008 - Hamburg, Deutschland
Dauer: 8 Sept. 200812 Sept. 2008

Konferenz

KonferenzInternational Symposium on Electromagnetic Compatibility
Land/GebietDeutschland
OrtHamburg
Zeitraum8/09/0812/09/08

Fields of Expertise

  • Sonstiges

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