Extending analytical STEM to three dimension: Spectral EELS and EDX tomography of an Al-Si based alloy

Georg Haberfehlner, Mihaela Albu, Angelina Orthacker, Gerald Kothleitner

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelEuropean Workshop on Spatially-Resolved Electron Spectroscopy
Herausgeber (Verlag).
Seiten18-18
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2014
VeranstaltungEuropean Workshop on Spatially-Resolved Electron Spectroscopy & Three Country Workgroupe meeting on EELS&EFTEM - TUGraz, Österreich
Dauer: 23 Apr. 201425 Apr. 2014

Konferenz

KonferenzEuropean Workshop on Spatially-Resolved Electron Spectroscopy & Three Country Workgroupe meeting on EELS&EFTEM
Land/GebietÖsterreich
OrtTUGraz
Zeitraum23/04/1425/04/14

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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