FIES: A Fault Injection Framework for the Evaluation of Self-Tests for COTS-Based Safety-Critical Systems

Andrea Höller, Gerhard Schönfelder, Tobias Rauter, Nermin Kajtazovic, Christian Josef Kreiner

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalsprachedeutsch
TitelIEEE Proceedings of Workshop on Microprocessor Test & Verification
Herausgeber (Verlag).
Seiten1-99
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2014
VeranstaltungIEEE Workshop on Microprocessor Test & Verification - Austin, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 16 Dez. 201416 Dez. 2014

Konferenz

KonferenzIEEE Workshop on Microprocessor Test & Verification
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtAustin
Zeitraum16/12/1416/12/14

Fields of Expertise

  • Information, Communication & Computing

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Application
  • Experimental

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