Fine-Tuning Nanowire Shape Using 3D Focused Electron Beam Induced Deposition

E. Mutunga, P. Rack, Jason D. Fowlkes, Harald Plank, Robert Winkler

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

Originalsprachedeutsch
TitelProgram Guide
Seiten77
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2018
VeranstaltungThe 62nd International Conference on Electron, Ion, and Photon Beam Technology and Nanofabrication - Puerto Rico, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 29 Mai 2018 → 1 Juni 2018
http://www.eipbn.org/

Konferenz

KonferenzThe 62nd International Conference on Electron, Ion, and Photon Beam Technology and Nanofabrication
KurztitelEIPBN 2018
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtPuerto Rico
Zeitraum29/05/18 → 1/06/18
Internetadresse

ASJC Scopus subject areas

  • Werkstoffwissenschaften (insg.)

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren