Abstract
Elektrische und elektronische Systeme sowie informationstechnische Infrastrukturen sind den Ein- und Auswirkungen atmosphärischer Entladungen ausgesetzt. In diesem Beitrag sollen die Zusammenhänge zwischen atmosphärischen Entladungen in Verbindung mit elektrischen Systemen, elektronischen Geräten und integrierten Schaltungen aufgezeigt werden. Dabei wird auf die Prüfverfahren und Normen zur Sicherstellung der elektromagnetischen Verträglichkeit gegenüber transienten Störgrößen eingegangen.
| Titel in Übersetzung | From the lightning discharge to ESD test methods: Stress effects to devices and integrated circuits with respect to the standards |
|---|---|
| Originalsprache | deutsch |
| Seiten (von - bis) | 3-10 |
| Fachzeitschrift | Elektrotechnik und Informationstechnik |
| Jahrgang | 133 |
| Ausgabenummer | 1 |
| DOIs | |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2016 |