High energy resolution EFTEM series in the low-loss regime

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 7 März 2007
VeranstaltungInternational Workshop on “New Trends in Electron Microscopy - Ringberg Castle, Tegernsee, Deutschland
Dauer: 7 März 20079 März 2007

Konferenz

KonferenzInternational Workshop on “New Trends in Electron Microscopy
Land/GebietDeutschland
OrtRingberg Castle, Tegernsee
Zeitraum7/03/079/03/07

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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