High-Fidelity 3D-Nanoprinting via Focused Electron Beams: Computer-Aided Design (3BID)

Jason D. Fowlkes; Robert Winkler; Brett B. Lewis; A. Fernandez-Pacheco; L. Skoric; D. Sanz-Hernandez; Michael Stanford; E. Mutunga; P. Rack; Harald Plank

doi:10.1021/acsanm.7b00342

High-Fidelity 3D-Nanoprinting via Focused Electron Beams: Computer-Aided Design (3BID)

Jason D. Fowlkes, Robert Winkler, Brett B. Lewis, A. Fernandez-Pacheco, L. Skoric, D. Sanz-Hernandez, Michael Stanford, E. Mutunga, P. Rack, Harald Plank

Institut für Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik (5190)

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel

Originalsprache	englisch
Seiten (von - bis)	1028-1041
Fachzeitschrift	ACS Applied Nano Materials
Jahrgang	1
Ausgabenummer	3
DOIs	https://doi.org/10.1021/acsanm.7b00342
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2018

ASJC Scopus subject areas

Werkstoffwissenschaften (insg.)

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Advanced Materials Science

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10.1021/acsanm.7b00342Lizenz: Andere

1 Abgeschlossen
1 Laufend

Functional Nanofabrication
Dohr, J., Plank, H., Rosker, S., Winkler, R., Stermitz, M., Reisecker, V., Michelitsch, S. G. W., Brugger-Hatzl, M., Schmied, R., Eicher, B., Orthacker, A., Arnold, G., Sattelkow, J., Kolb, F., Ganner, T., Haselmann, U., Seewald, L. & Aschl, T.
1/01/09 → …
Projekt: Foschungsprojekt
AIM - Kombinierte Hochgeschwindigkeitsrasterkraft- und Dreistrahlmikroskopie für korrelierte Mikroskopie
Plank, H.
1/08/17 → 28/02/20
Projekt: Foschungsprojekt

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Treatment code (Nähere Zuordnung)

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AIM - Kombinierte Hochgeschwindigkeitsrasterkraft- und Dreistrahlmikroskopie für korrelierte Mikroskopie

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