High-Fidelity 3D-Nanoprinting via Focused Electron Beams: Computer-Aided Design (3BID)

Suchergebnisse

• Abgeschlossen

  AIM - Kombinierte Hochgeschwindigkeitsrasterkraft- und Dreistrahlmikroskopie für korrelierte Mikroskopie

  Plank, H.

  1/08/17 → 28/02/20

  Projekt: Forschungsprojekt

  • Temperature 100%
  • Nanowire 76%
  • Electronics 76%
  • Materials Property 76%
  • Materials Application 76%

• Functional Nanofabrication

  Dohr, J., Plank, H., Rosker, S., Winkler, R., Stermitz, M., Reisecker, V., Michelitsch, S. G. W., Brugger-Hatzl, M., Schmied, R., Eicher, B., Orthacker, A., Arnold, G., Sattelkow, J., Kolb, F., Ganner, T., Haselmann, U., Seewald, L. & Aschl, T.

  1/01/09 → 31/12/23

  Projekt: Forschungsprojekt

  • Materials 100%
  • Temperature 88%
  • Nanocrystalline Material 81%
  • Metal 64%
  • Purification 50%