Investigation of the Electron Transfer at Si Electrodes: Impact and Removal of the Native SiO2 Layer

Heinz Bülter; Michael Sternad; Eduardo dos Santos Sardinha; Julia Witt; Carsten Dosche; Martin Wilkening; Gunther Wittstock

doi:10.1149/2.0731603jes

Investigation of the Electron Transfer at Si Electrodes: Impact and Removal of the Native SiO2 Layer

Heinz Bülter, Michael Sternad, Eduardo dos Santos Sardinha, Julia Witt, Carsten Dosche, Martin Wilkening, Gunther Wittstock

Institut für Chemische Technologie von Materialien (6380)

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

Originalsprache	deutsch
Seiten (von - bis)	A504-A512
Fachzeitschrift	Journal of the Electrochemical Society
Jahrgang	163
Ausgabenummer	3
DOIs	https://doi.org/10.1149/2.0731603jes
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2016

Fields of Expertise

Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

Experimental

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10.1149/2.0731603jes

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http://jes.ecsdl.org/content/163/3/A504.abstract

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Sternad, M., Wilkening, H. M. R., Wohlmuth, D., Freunberger, S., Hirtler, G., Dunst, A., Schmidt, W., Brandstätter, H., Lunghammer, S., Hanzu, I., Posch, P., Tapler, D., Hanghofer, I., Breuer, S. & Uitz, M.
1/09/12 → 31/08/19
Projekt: Foschungsprojekt

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TY - JOUR

T1 - Investigation of the Electron Transfer at Si Electrodes: Impact and Removal of the Native SiO2 Layer

AU - Bülter, Heinz

AU - Sternad, Michael

AU - dos Santos Sardinha, Eduardo

AU - Witt, Julia

AU - Dosche, Carsten

AU - Wilkening, Martin

AU - Wittstock, Gunther

PY - 2016

Y1 - 2016

UR - http://jes.ecsdl.org/content/163/3/A504.abstract

U2 - 10.1149/2.0731603jes

DO - 10.1149/2.0731603jes

M3 - Artikel

VL - 163

SP - A504-A512

JO - Journal of the Electrochemical Society

JF - Journal of the Electrochemical Society

SN - 0013-4651

IS - 3

ER -

Investigation of the Electron Transfer at Si Electrodes: Impact and Removal of the Native SiO2 Layer

Fields of Expertise

Treatment code (Nähere Zuordnung)

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