Jitter: Basics, Relevance and Measurement methods

D Pommerenke

Jitter: Basics, Relevance and Measurement methods

Institut für Elektronik (4390)

Publikation: Konferenzbeitrag › Abstract › Begutachtung

Originalsprache	englisch
Seiten	1521-1534
Seitenumfang	14
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 1 Jan. 2008
Veranstaltung	2008 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility: EMC 2008 - Detroit, USA / Vereinigte Staaten Dauer: 18 Aug. 2008 → 22 Aug. 2008

Konferenz

Konferenz	2008 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
Land/Gebiet	USA / Vereinigte Staaten
Ort	Detroit
Zeitraum	18/08/08 → 22/08/08

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TY - CONF

T1 - Jitter

T2 - 2008 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility

AU - Pommerenke, D

PY - 2008/1/1

Y1 - 2008/1/1

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M3 - Abstract

SP - 1521

EP - 1534

Y2 - 18 August 2008 through 22 August 2008

ER -