Localized Direct Material Removal and Deposition by Nanoscale Field Emission Scanning Probes

Martin Hofmann, Mathias Holz, Harald Plank, Steffen Strehle*

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Fingerprint

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