Magnetfeldkompensation in Elektronenmikroskopie-Räumen

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Originalsprache	deutsch
Seiten (von - bis)	395-403
Fachzeitschrift	Elektrotechnik und Informationstechnik
Jahrgang	128
Ausgabenummer	11-12
DOIs	https://doi.org/10.1007/s00502-011-0051-3
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2011

Fields of Expertise

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TY - JOUR

T1 - Magnetfeldkompensation in Elektronenmikroskopie-Räumen

AU - Friedl, Katrin

AU - Grogger, Werner

AU - Schmautzer, Ernst

AU - Fisslthaler, Evelin

PY - 2011

Y1 - 2011

UR - http://www.springerlink.com/content/p21u60434649pq96/

U2 - 10.1007/s00502-011-0051-3

DO - 10.1007/s00502-011-0051-3

M3 - Artikel

SN - 1613-7620

VL - 128

SP - 395

EP - 403

JO - Elektrotechnik und Informationstechnik

JF - Elektrotechnik und Informationstechnik

IS - 11-12

ER -