Message from the General Chair

Franz Wotawa*

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Vorwort/Nachwort

Originalspracheenglisch
Titel2020 IEEE International Conference On Artificial Intelligence Testing (AITest)
Seitenviii
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - Aug. 2020
VeranstaltungIEEE International Conference on Artificial Intelligence Testing: AITest 2020 - Keble College, Oxford University, Virtuell, Großbritannien / Vereinigtes Königreich
Dauer: 3 Aug. 2020 → 6 Aug. 2020

Konferenz

KonferenzIEEE International Conference on Artificial Intelligence Testing
KurztitelAITest 2020
Land/GebietGroßbritannien / Vereinigtes Königreich
OrtVirtuell
Zeitraum3/08/20 → 6/08/20

ASJC Scopus subject areas

  • Artificial intelligence
  • Angewandte Informatik
  • Sicherheit, Risiko, Zuverlässigkeit und Qualität
  • Modellierung und Simulation

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