Microfabrication of the combined AFM-SECM sensors using Focused Ion Beam

Amra Avdic, Alois Lugstein, Ming Wu, Bernhard Gollas

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 28 Juni 2010
Veranstaltung5th FIB Workshop 2010 - Wien, Österreich
Dauer: 28 Juni 201029 Juni 2010

Konferenz

Konferenz5th FIB Workshop 2010
Land/GebietÖsterreich
OrtWien
Zeitraum28/06/1029/06/10

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Experimental

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