Model-Based Mutation Testing of an Industrial Measurement Device

Bernhard Aichernig, Jakob Auer, Elisabeth Jöbstl, Robert Korosec, Willibald Krenn, Rupert Schlick, Birgit Vera Schmidt

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelTests and Proofs
Herausgeber (Verlag)Springer
Seiten1-9
Band8570
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2014
VeranstaltungInternational Conference on Tests and Proofs: TAP 2014 - York, Großbritannien / Vereinigtes Königreich
Dauer: 24 Juli 201425 Juli 2014

Publikationsreihe

NameLecture Notes in Computer Science
Herausgeber (Verlag)Springer

Konferenz

KonferenzInternational Conference on Tests and Proofs
KurztitelTAP 2014
Land/GebietGroßbritannien / Vereinigtes Königreich
OrtYork
Zeitraum24/07/1425/07/14

Fields of Expertise

  • Information, Communication & Computing

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Application
  • Experimental

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