Monitoring of parameter stability of SiC MOSFETs in real application tests

M. Sievers*, B. Findenig, M. Glavanovics, T. Aichinger, B. Deutschmann

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

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