Non-destructive microstructural analysis by electrical conductivity: Comparison with hardness measurements in different materials

Gonçalo L. Sorger, J. P. Oliveira*, Patrick L. Inácio, Norbert Enzinger, Pedro Vilaça, R. M. Miranda, Telmo G. Santos

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Non-destructive microstructural analysis by electrical conductivity: Comparison with hardness measurements in different materials“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

Physics

Engineering

Material Science