Projekte pro Jahr
Originalsprache | englisch |
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Titel | Proceedings of the 20th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference |
Herausgeber (Verlag) | . |
Publikationsstatus | Eingereicht - 2003 |
Veranstaltung | IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference - Vail, USA / Vereinigte Staaten Dauer: 20 Mai 2003 → 22 Mai 2003 |
Konferenz
Konferenz | IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference |
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Land/Gebiet | USA / Vereinigte Staaten |
Ort | Vail |
Zeitraum | 20/05/03 → 22/05/03 |
Projekte
- 1 Abgeschlossen
-
Objective Speckle Correlation Metrology
Thurner, T. (Projektleiter (Principal Investigator))
1/01/01 → 31/01/08
Projekt: Forschungsprojekt