Numerical simulation of coherent light diffracted from rough surfaces

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

    Originalspracheenglisch
    TitelProceedings of the 20th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
    Herausgeber (Verlag).
    PublikationsstatusEingereicht - 2003
    VeranstaltungIEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference - Vail, USA / Vereinigte Staaten
    Dauer: 20 Mai 200322 Mai 2003

    Konferenz

    KonferenzIEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
    Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
    OrtVail
    Zeitraum20/05/0322/05/03
    • Objective Speckle Correlation Metrology

      Thurner, T. (Projektleiter (Principal Investigator))

      1/01/0131/01/08

      Projekt: Forschungsprojekt

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