Prediction of the robustness of integrated circuits against EFT/BURST

Susanne Maria Bauer, Bernd Deutschmann, Gunter Winkler

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
Titel2015 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC)
Herausgeber (Verlag)Institute of Electrical and Electronics Engineers
Seiten45-49
ISBN (Print)978-1-4799-6615-8
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2015
VeranstaltungJoint IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and EMC Europe: EMC 2015 - Dresden, Deutschland
Dauer: 16 Aug. 201522 Aug. 2015

Konferenz

KonferenzJoint IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and EMC Europe
Land/GebietDeutschland
OrtDresden
Zeitraum16/08/1522/08/15

Fields of Expertise

  • Sonstiges

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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