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Abstract
This study proposes a linear approach for propagating uncertainties in the multiline thru-reflect-line (TRL) calibration method for vector network analyzers (VNAs). The multiline TRL formulation we are proposing applies the law of uncertainty propagation as outlined in the ISO Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement (GUM) to both measurement and model uncertainties. In addition, we conducted a Monte Carlo (MC) analysis using a combination of measured and synthetic data to model various uncertainties, such as measurement noise, reflect asymmetry, line mismatch, and line length offset. The results of our linear uncertainty formulation demonstrate agreement with the MC analysis and provide a more efficient means of assessing the uncertainty budget of the multiline TRL calibration.
Originalsprache | englisch |
---|---|
Herausgeber | arXiv |
Seitenumfang | 9 |
Band | 72 |
DOIs | |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 22 Jan. 2023 |
ASJC Scopus subject areas
- Instrumentierung
- Elektrotechnik und Elektronik
Fields of Expertise
- Information, Communication & Computing
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- Experimental
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Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Propagation of Linear Uncertainties through Multiline Thru-Reflect-Line Calibration“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.Projekte
- 1 Laufend
-
CD-Labor für Technologie basiertes Design und Charakterisierung von elektronischen Komponenten
Bösch, W. (Teilnehmer (Co-Investigator)), Hatab, Z. (Teilnehmer (Co-Investigator)), Gadringer, M. E. (Teilnehmer (Co-Investigator)), Takahashi, H. (Teilnehmer (Co-Investigator)), Maier, C. (Teilnehmer (Co-Investigator)), Sarbandi Farahani, H. (Teilnehmer (Co-Investigator)), Pauser-Greistorfer, C. (Teilnehmer (Co-Investigator)), Paulitsch, H. (Teilnehmer (Co-Investigator)), Rezaee, B. (Teilnehmer (Co-Investigator)) & Fuchs, M. (Teilnehmer (Co-Investigator))
1/11/20 → 31/10/27
Projekt: Forschungsprojekt
Aktivitäten
- 1 Vortrag bei Konferenz oder Fachtagung
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Advanced PCB Measurement Techniques for Millimeter-wave Frequencies and Beyond
Gadringer, M. E. (Redner/in) & Hatab, Z. (Redner/in)
23 Sept. 2024Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Vortrag bei Konferenz oder Fachtagung › Science to science
-
Modified Semi-Additive Manufacturing of PCBs for Enabling Accurate Device Measurements at Millimeter-Wave and Sub-Terahertz Frequencies
Arsanjani, A., Hatab, Z., Alterkawi, A. B. A., Gadringer, M. E. & Bösch, W., 21 Juni 2024, 103rd ARFTG Microwave Measurement Conference: Advanced Measurement Techniques for Next-G Communication Systems, ARFTG 2024. IEEE CSP, 4 S. 10660794Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung
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Propagation of Linear Uncertainties through Multiline Thru-Reflect-Line Calibration
Hatab, Z., Gadringer, M. E. & Bösch, W., 2023, in: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. 72, 9 S., 1007409.Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung
Open AccessDatei -
Validation of the Reference Impedance in Multiline Calibration with Stepped Impedance Standards
Hatab, Z., Gadringer, M. E., Alterkawi, A. B. A. & Bösch, W., 14 Sept. 2023, in: IEEE Open Journal of Instrumentation and Measurement. 2, 12 S., 10251578.Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung
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