Pulse Frequency Effects on Probability of ESD Soft Failures for a Specific Camera Subsystem

Yanlin Nie, Qiupei Huang, Xiang Li, Xiaofei Xie, David Johannes Pommerenke, Zhiwei Liu, Jizhi Liu

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Abstract

In this paper, the frequency of injection pulses has been varied to study its influence on soft failure probability. Injection pulses with different frequencies are injected into a camera sub-system of a smartphone prototype. It is found that the pulse frequency is nonlinear with the soft failure probability.

Originalspracheenglisch
TitelInternational EOS/ESD Symposium on Design and System 2020, IEDS 2020
Herausgeber (Verlag)Institute of Electrical and Electronics Engineers
ISBN (elektronisch)9781585373284
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 23 Juni 2021
Veranstaltung1st Annual International EOS/ESD Symposium on Design and System: IEDS 2020 - Virtuell
Dauer: 23 Juni 202025 Juni 2020

Konferenz

Konferenz1st Annual International EOS/ESD Symposium on Design and System
KurztitelIEDS 2020
OrtVirtuell
Zeitraum23/06/2025/06/20

ASJC Scopus subject areas

  • Elektrotechnik und Elektronik
  • Elektronische, optische und magnetische Materialien
  • Instrumentierung
  • Atom- und Molekularphysik sowie Optik

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