Require, Test and Trace IT

Bernhard Aichernig; Klaus Hörmaier; Florian Lukas Lorber; Dejan Nickovic; Stefan Tiran

doi:10.1007/978-3-319-19458-5_8

Require, Test and Trace IT

Bernhard Aichernig, Klaus Hörmaier, Florian Lukas Lorber, Dejan Nickovic, Stefan Tiran

Institute of Software Engineering and Artificial Intelligence (7160)

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

Originalsprache	englisch
Titel	Formal Methods for Industrial Critical Systems
Erscheinungsort	Cham
Herausgeber (Verlag)	Springer
Seiten	113-127
ISBN (Print)	978-3-319-19457-8
DOIs	https://doi.org/10.1007/978-3-319-19458-5_8
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2015
Veranstaltung	International Workshop on Formal Methods for Industrial Critical Systems - Oslo, Norwegen Dauer: 22 Juni 2015 → 23 Juni 2015

Publikationsreihe

Name	Lecture Notes in Computer Science
Herausgeber (Verlag)	Springer
Band	9128

Konferenz

Konferenz	International Workshop on Formal Methods for Industrial Critical Systems
Land/Gebiet	Norwegen
Ort	Oslo
Zeitraum	22/06/15 → 23/06/15

Fields of Expertise

Information, Communication & Computing

Zugriff auf Dokument

10.1007/978-3-319-19458-5_8

Andere Dateien und Links

http://www.ist.tugraz.at/aichernig/publications/papers/fmics15.pdf

CRYSTAL - Critical Systems Engineering Factories
Lorber, F. L. (Teilnehmer (Co-Investigator)) & Aichernig, B. (Projektleiter (Principal Investigator))
1/05/13 → 30/04/16
Projekt: Forschungsprojekt
EU - MBAT - Combined Model-based Analysis and Testing of Embedded Systems
Lorber, F. L. (Teilnehmer (Co-Investigator)), Tiran, S. (Teilnehmer (Co-Investigator)) & Aichernig, B. (Projektleiter (Principal Investigator))
1/11/11 → 31/12/13
Projekt: Forschungsprojekt

Dieses zitieren

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TY - GEN

T1 - Require, Test and Trace IT

AU - Aichernig, Bernhard

AU - Hörmaier, Klaus

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PY - 2015

Y1 - 2015

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M3 - Conference paper

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T3 - Lecture Notes in Computer Science

SP - 113

EP - 127

BT - Formal Methods for Industrial Critical Systems

PB - Springer

CY - Cham

T2 - International Workshop on Formal Methods for Industrial Critical Systems

Y2 - 22 June 2015 through 23 June 2015

ER -

Require, Test and Trace IT

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CRYSTAL - Critical Systems Engineering Factories

EU - MBAT - Combined Model-based Analysis and Testing of Embedded Systems

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