Robust mTRL implementation for probing standards manufactured on PCBs

Michael E. Gadringer

Institut für Hochfrequenztechnik (4510)

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2022
mm-Wave Complex Permittivity Extraction of LTCC Substrate Under the Influence of Surface Roughness
Hatab, Z., Gadringer, M. E., Habib, M. K. A. & Bösch, W., 16 Feb. 2022, in: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. 71, 11 S., 6001711.
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